服務(wù)背景

AQG324認(rèn)證服務(wù) LV324汽車電子元器件測試：AQG324認(rèn)證服務(wù) LV324汽車電子元器件測試AQG324是ECPE相關(guān)工作組基于LV324測試標(biāo)準(zhǔn)，為汽車電力電子轉(zhuǎn)換單元(PCUs)用功率模塊推出的認(rèn)證指南。其中包含QM模塊測試部分，QC模塊特性測試部分，QE環(huán)境可靠性部分，QL壽命試驗部分，AQG324制定了完善的車規(guī)級功率模塊的可靠性試驗流程，可以有效驗證產(chǎn)品可靠性，指導(dǎo)廠商更深入了解其產(chǎn)品可靠性能，從而加快產(chǎn)品開發(fā)速度，優(yōu)化工藝流程。該標(biāo)準(zhǔn)從2018年4月推出側(cè)重于基于硅基的功率模塊可靠性測試指南，到2021年3月的最新版本，已經(jīng)更新了部分碳化硅功率模塊的測試程序，廣電計量元器件篩選及失效分析中心對AQG324測試標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行深入研究，并建立了全套的功率模塊可靠性驗證技術(shù)能力。

服務(wù)范圍

本標(biāo)準(zhǔn)定義了功率模塊所需驗證的測試項目、測試要求以及測試條件，適用范圍包括電力電子模塊的使用壽命和基于分立器件的等效特殊設(shè)計，例如用于高達(dá)3.5噸機動車輛的電力電子轉(zhuǎn)換器單元(PCU)。這些測試項目、要求以及條件大體上適用于Si基功率半導(dǎo)體模塊，后續(xù)發(fā)行版本將涉及替代半導(dǎo)體技術(shù)。

服務(wù)內(nèi)容

AQG324認(rèn)證服務(wù) LV324汽車電子元器件測試：QM-Module test  AQG324模塊測試用于在單個測試序列之前，以確保只有無缺陷的測試對象進(jìn)入資格測試，和序列之后表征被測件的電氣和機械性能。其目的是深入了解模塊的特征參數(shù)。模塊測試包含模塊開關(guān)單元的特征參數(shù)，聲掃和外觀檢查等測試項目。如圖所示，廣電計量認(rèn)證服務(wù)包含且不限于提供AQG324相關(guān)的測試項目。

表1 模塊測試設(shè)備方案

QC-Characterizing module testing  模塊特性測試主要用于驗證功率模塊的基本電氣功能特性和機械數(shù)據(jù)。除此之外，這些測試可以針對設(shè)計中與功能退化（功能失效）無關(guān)的薄弱點進(jìn)行早期探測和評估，包括元器件的幾何布置、組裝、互連技術(shù)和半導(dǎo)體質(zhì)量。

表2 模塊特性測試設(shè)備方案

QE-Environmental testing  環(huán)境測試主要用于驗證電力電子模塊在機動車輛中的適用性，包括物理分析、電氣和機械參數(shù)驗證以及測試絕緣屬性。

表3 環(huán)境測試設(shè)備方案

QL-Lifetime testing  壽命測試主要是驗證產(chǎn)品在規(guī)定條件下的使用壽命、貯存壽命是否達(dá)到規(guī)定的要求，發(fā)現(xiàn)設(shè)計缺陷，確定失效機理等，例如功率循環(huán)測試主要是觸發(fā)/激發(fā)電力電子模塊的典型退化機制。該過程主要區(qū)分為兩種失效機制：靠近芯片互連的疲勞失效(chip-near)和距離芯片互連較遠(yuǎn)的疲勞失效(chip-remote)，兩種失效機制均由不同材料（具有不同的熱膨脹系數(shù)）之間的熱機械應(yīng)力引發(fā)。

圖4 QL-01功率循環(huán)測試

 表4 壽命試驗設(shè)備方案

我們的優(yōu)勢

廣電計量在Si基功率半導(dǎo)體模塊、SiC模塊等相關(guān)測試有著豐富的實戰(zhàn)經(jīng)驗，為眾多半導(dǎo)體廠家提供模塊的規(guī)格書參數(shù)測試、競品分析、環(huán)境可靠性、壽命耐久和失效分析等一站式測試服務(wù)。